Лабораторная работа №2 по дисциплине «эксплуатацияэвми систем» разработка программного обеспечения тестирования памяти - davaiknam.ru o_O
Главная
Поиск по ключевым словам:
страница 1
Похожие работы
Название работы Кол-во страниц Размер
Лабораторная работа №2. «Разработка программного обеспечения тестирования... 1 32.08kb.
Реферат Данная работа посвящена разработке программного обеспечения... 1 43.11kb.
Разработка методики и моделей управления рисками в проектах разработки... 1 291.71kb.
Лабораторная работа №2 Разработка требований к информационной системе 1 228.93kb.
Вопросы к зачёту по дисциплине «Системы автоматизированного проектирования... 1 22.76kb.
Вопросы к экзамену по курсу «Технология разработки программного обеспечения... 1 27.22kb.
Бочкарёв Евгений Сергеевич Программист Delphi 1 125.24kb.
Спецкурс "Архитектура распределенных систем программного обеспечения" 1 14.82kb.
Дипломная работа содержит 104 листа, 6 таблиц, 35 рисунков. 9 484.19kb.
«Понятие программы, программного обеспечения. История и перспективы... 1 125.91kb.
Программа курса «Разработка программного обеспечения для встроенных... 1 21.63kb.
C student имеет след поля: внутрішні: int i,j 1 51.74kb.
Направления изучения представлений о справедливости 1 202.17kb.

Лабораторная работа №2 по дисциплине «эксплуатацияэвми систем» разработка программного - страница №1/1

Министерство образования и науки Российской Федерации

Государственное образовательное учреждение высшего профессионального

образования «Тульский государственный университет»

Кафедра электронных вычислительных машин

Лабораторная работа № 2
по дисциплине
«ЭКСПЛУАТАЦИЯ Э В М И СИСТЕМ»

РАЗРАБОТКА ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ

ТЕСТИРОВАНИЯ ПАМЯТИ

Вариант № 3



Выполнили:

студент гр. 250261 Тарасов С.Д.

Проверил:

преподаватель

Лебеденко Ю.И.



Тула 2011

Оглавление





РАЗРАБОТКА ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ 1

ТЕСТИРОВАНИЯ ПАМЯТИ 1

Цели и задачи выполнения курсовой работы 3

Основные теоретические положения 3

Исходные данные 5

Задание на работу 5

Ход выполнения задания 6

Тестирование ОЗУ вычислительного комплекса с помощью программы. Шахматный тест. 6

Вывод 8

Библиографический список 8





Цели и задачи выполнения курсовой работы


Целью работы является освоение методов тестирования запоминающих устройств и их реализация в прикладном программном обеспечении.

Основные теоретические положения

По функциональному назначению запоминающие устройства можно разделить на два основных класса: постоянные запоминающие устройства (ПЗУ); оперативные запоминающие устройства (ОЗУ).

В зависимости от количества циклов перепрограммирования различают ПЗУ следующих типов: масочные (программируются изготовителем), однократно программируемые, многократно программируемые (УФ-стираемые, электрически стираемые и т.п.). Среди оперативных запоминающих устройств, в зависимости от механизма хранения информации, выделяют ОЗУ статического и динамического типов. По технологическому исполнению различают [1]:

1) FPM – Fast-Page Mode – динамическая память со страничной организацией ( время выборки – 60…70 нс, тактовые частоты до 40 МГц).

2) EDO – Extended Data Out – технология динамической памяти с укороченным циклом чтения. При включении в системы, поддерживающие EDO, этот тип памяти обеспечивает примерно 10-20% ускорение доступа к памяти по сравнению с микросхемами FPM.

3) SDRAM – Synchronous DRAM – синхронная динамическая память использует тактовую частоту для синхронизации сигналов ввода и вывода. Тактовая частота согласована с частотой работы процессора, таким образом, тактирование памяти и процессора синхронизированы. Использование SDRAM сокращает время выборки команд и передачи данных, что повышает общую производительность компьютера. ( время выборки в пакетном режиме– 7…10 нс, тактовые частоты до 125 МГц).

4) SDRAM II (DDR) – Double-data rate SDRAM – представляет собой более быстродействующую версию SDRAM. Память этого типа позволяет осуществлять чтение как по фронту, так и по спаду импульсов тактовой частоты. За счет этого скорость обращения к памяти удваивается.

5) RDRAM – Direct Rambus – разработка компании Rambus Inc. Память с повышенным быстродействием, использующая узкий, высокоскоростной канал для передачи данных на скоростях, примерно в десять раз более высоких относительно стандартной динамической памяти. Разрабатываются две разновидности RDRAM: Concurrent и Direct RDRAM. Обе они основаны на стандартной технологии RDRAM, отличаясь дополнительными улучшениями, обеспечивающими дальнейшее повышение быстродействия до величины пропускной способности до 1,6 ГБ/с).



Характерные дефекты ЗУ и методы тестирования

Дефекты ЗУ могут быть связаны как с неисправностью непосредственно модулей ЗУ, так и с дефектами внешнего оборудования (замыкания/разрывы линий шин адреса и данных, дефекты блока питания, тактирующих генераторов, схем регенерации памяти, превышение нагрузочной способности выходов и т.п.). Они могут проявляться в виде замыкания разрядов адресов, замыкания разрядов данных, отдельных неисправных ячеек, искажений отдельных ячеек при нагревании, пульсациях питания и т.п.

Для ПЗУ с пережигаемыми перемычками из поликристаллического кремния возможно «зарастание» перемычек. В остальных типах возможно самопроизвольное стирание.

При разработке программного обеспечения тестирования ЗУ следует обратить внимание на релоцируемость программ, т.е. возможность перемещения их в памяти, необходимость восстановление стека и системных переменных после тестирования соответствующих ячеек памяти, обход участков, занятых внешними устройствами, отображенными на память и т.п.

Тестирование ПЗУ сводится, как правило, к проверке корректности контрольной суммы данных, хранящихся в нем.


Исходные данные



Шахматный тест. В ОЗУ записывается байты данных, содержащие чередующиеся нули и единицы в шахматном порядке. Подобный порядок образуется, например, при записи последовательности вида 55h, AAh, 55h, AAh,… Затем производится последовательное считывание и проверка этой информации. Шахматный тест используется для проверки взаимовлияния ячеек, содержащих информацию, записанную в обратном коде.



Задание на работу

1) Ознакомиться с теоретическими сведениями, приведенными во втором разделе, изучить тесты памяти с помощью демонстрационной программы, ответить на контрольные вопросы.



  1. Разработать прикладное программное обеспечение тестирования элементов выделяемого фрагмента памяти в соответствии с вариантом задания, выданным преподавателем. При разработке программы предусмотреть возможность произвольного задания тестируемой области памяти, учесть организацию микросхем памяти, от которой будет зависеть число ячеек в одной строке и столбце матрицы, а также возможность вывода информации об адресах сбойных ячеек.


Ход выполнения задания

Тестирование ОЗУ вычислительного комплекса с помощью программы. Шахматный тест.

Листинг программы:


#include

#include

//#include
unsigned char MemVal(void *p)

{

unsigned char Byte;



unsigned char CurAddr = ((unsigned char *) &p)[0];
if(CurAddr%2 ==0)

{

Byte =0;



}

else Byte = 1;

return Byte;

}
int ReadMem(void *pBeginAddr, void *pEndAddr)

{

int Error;



unsigned char * pCurAddr = (unsigned char *)pBeginAddr;

while(pCurAddr<=pEndAddr)

{

int Error=0;



unsigned char ReadByte = *pCurAddr;

unsigned char CmpByte =MemVal(pCurAddr);

printf("Address: %p, value: %d", pCurAddr, ReadByte);

if(ReadByte !=CmpByte)

{

printf(" - Erroneouse data\n");



Error=1;

}

printf("\n");



pCurAddr++;

}

return Error;



}
void WriteMem(void *pBeginAddr, void *pEndAddr)

{

unsigned char *pCurAddr = (unsigned char *)pBeginAddr;



while(pCurAddr<=pEndAddr)

{

*pCurAddr = MemVal(pCurAddr);



pCurAddr++;

}

}



void main()

{

int n;



printf("Input the namber of memory byte -");

scanf("%d", &n);

unsigned char* Arr = new unsigned char[n];

unsigned char* pArr = Arr;

WriteMem(pArr,pArr+n);

int Res = ReadMem(pArr, pArr+n);

if(Res)

{

printf("Error found");



getch();

return;


}

else


{

printf("Errors not found");

getch();

}

getch();



}

Результат работы программы:


Рис. 3.

Вывод


В результате выполнения лабораторной работы получены практические навыки разработки программного обеспечения «Шахматный тест» для тестирования памяти ЭВМ.

Библиографический список


1. Каган Б.М., Мкртумян И.В. Основы эксплуатации ЭВМ: учебное пособие. – М.:Энергоиздат, 1988. – 429 с.

2. Гук М. Аппаратные средства IBM PC: Энциклопедия. – СПб.: Питер, 2005 – 923 с.

3. Гук М. Аппаратные интерфейсы ПК: Энциклопедия.– СПб.: Питер, 2004. – 573 с.

4. Гук М. Дисковая подсистема ПК.– СПб.: Питер, 2006. – 336 с.

5. Гук М. Аппаратные средства локальных сетей.– СПб.: Питер, 2004. – 576 с.

6. Кучеров Д.П. Источники питания ПК и периферии / Д.П.Кучеров; СПб: Наука и техника. 2002 – 384 с.

7. Эраносян С.А. Сетевые блоки питания с высокочастотными преобразователями. – Л.:Энергоатомиздат, 1991. – 172 с.

8. Степаненко О. Техническое обслуживание и ремонт IBM PC. – Киев, 1994. – 192 с.

9. Скэнлон Л. Персональные ЭВМ IBM PC и XT. Программирование на языке ассемблера. - М.: Радио и связь, 1989. - 336 с.

10. Архангельский А.Я.. Программирование в Delphi 6. – М.: «Издательство БИНОМ», 2003 г. – 1120 с.: ил..



11. Майерс Г. Надежность программного обеспечения / Г. Майерс. М.: Мир, 1980 – 360 с.




По сравнению со средневековьем человечество продвинулось далеко вперед в направлении свободомыслия. Например, инквизиция уже не святая. Збигнев Земецкий
ещё >>